著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
M. Nagase and H. Hibino and H. Kageshima,招待講演 Metrology of microscopic properties of graphene on SiC,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2009-06,109,98,47-52,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409275212800,