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藤井 健太郎 and 秋山 晋作 and 岸川 雄紀,総合試験工程に対する自動試験適用範囲拡大によるLTE基地局対応OSSの開発効率化の評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2011-03,110,466,75-80,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409310560768,