著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
森下 浩志 and 石黒 智章 and 川内 康弘,MOVPE法によるGaAs/Si基板上CdTe厚膜の成長と電気特性評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2002-05-24,102,79,7-12,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409332104448,