著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
神嶋 修 and 河村 純一,EXAFSによる材料評価--イオン導電体への応用,Ceramics Japan = セラミックス : bulletin of the Ceramic Society of Japan,0009031X,東京 : 日本セラミックス協会,2006-12,41,12,998-1003,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409405518336,