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高木 誠 and 松室 昭仁 and 岩田 博之,原子間力顕微鏡(AFM)と透過型電子顕微鏡(TEM)を用いたシリコン単結晶のマイクロ摩耗プロセスの解明,愛知工業大学総合技術研究所研究報告,13449672,豊田 : 愛知工業大学総合技術研究所,2013-09,,15,67-71,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409756063104,