著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
渡辺 隆 and 藤原 孝幸 and 輿水 大和,単眼ステレオ法の精度向上と微細電子部品検査への適用,知能メカトロニクスワークショップ講演論文集,,高松 : 精密工学会,2005-09,10,,91-96,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409762187136,