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岡野 真之 and 岡本 亮 and 田中 陽,広帯域パラメトリック蛍光対による量子光断層撮影の分散耐性実証実験,量子情報技術研究会資料,,[東京] : 量子情報技術時限研究専門委員会,2012-11,27,,117-119,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409884542080,