著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
金子 卓史 and 神田 隆行 and 東 尚希 and 薬丸 昇 and 坂口 真司 and 藤原 優 and 池本 裕 and 土屋 英晴,IGBT静電気破壊品の解析手法とその適用事例,日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability,,東京 : 日本信頼性学会,2018-06-04,26,,43-46,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409911788288,