著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
伏見 浩 and 和田 一実,高濃度炭素ドープGaAs中の水素および炭素関連欠陥による通電劣化,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2000-03-17,99,712,13-18,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009410265693952,