著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
朝倉 健太郎 and 堀内 繁雄 and 広畑 泰久,〔日本電子顕微鏡学会〕先端材料解析研究部会・成果報告 イオンミリング技法とウルトラミクロトーム(超薄切片)技法のラウンドロビンテスト--工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化,電子顕微鏡,04170326,東京 : 日本顕微鏡学会,1997-03,32,1,52-55,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009410269761024,