著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
David Shear,高速CMOS標準論理ICのグランド・バウンスを試験,日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation,03851680,東京 : 日経BP,1989-05-15,,473,p225-236,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009410280469760,