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永井 慎太郎 and 和田 弘樹 and 大竹 哲史,固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2000-01-12,99,530,29-36,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009410286787456,