著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
河合 政夫,最新の観測・分析機器の得意不得意:走査電子顕微鏡とその機能について,検査技術,13429825,東京 : 日本工業出版,2006-07,11,7,31-36,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520010380966417280,