著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
藤田 大介 and 竹口 雅樹,"微細構造解析プラットフォームが目指した""共用の文化""の醸成",顕微鏡 = Microscopy,13490958,東京 : 日本顕微鏡学会,2023,58,1,23-30,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520015023045074176,