著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
前澤 祐,CAEとバウンダリスキャンの連携による信頼性評価デジタルツインシステムを目指して,エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging,,[東京] : エレクトロニクス実装学会,2024-07,27,4,294-299,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520019280740949120,