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徐 鐘旭 and 長谷川 繁彦 and 朝日 一,パターニングしたSOI基板上のGaNナノロッド成長とその評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2007-08-03,107,177,1-4,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290882047685248,