著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI) 森永 広介 and 岡 伸也 and 吉川 祐樹,無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2007-11-20,107,334,13-18,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290882100537216,