著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
藤田 尚樹 and 李 海錫 and 岡田 浩,単結晶CuInSe2薄膜の電子線照射欠陥の評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2002-05-24,102,77,79-84,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290882164495744,