著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
田口 大 and 長田 憲司朗 and Weis Martin,光第2次高調波発生法による積層有機EL素子の界面電荷蓄積時間の評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2009-11-13,109,283,19-23,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290882210234624,