著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
西 佑介 and 木本 恒暢,NiOを用いたReRAMにおけるフォーミング特性の分布,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2015-12-14,115,362,13-17,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290882293398912,