著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
桃田 快 and 遠藤 幸一 and 御堂 義博,マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2014-11-20,114,314,1-5,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290882620678272,