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小野 安季良 and 一宮 正博 and 四柳 浩之,論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価,マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集,,東京 : エレクトロニクス実装学会,2007-09,17,,195-198,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290882979424512,