著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
松下 由憲 and 加藤 正史 and 市村 正也,マイクロ波光導電減衰法によるp型4H-SiCエピタキシャル膜の評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2008-05,108,35,95-100,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290883169489920,