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山内 潤治 and 大瀬 和洋 and 藤田 裕次,Si基板上に形成されたステップインデックス型光導波路の漏れ損失,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2005-07-15,105,183,7-12,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290883357671808,