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森井 真喜人 and 森脇 弘之 and 田中 秀樹,シリコーンによる電気接点接触障害の評価技術(1)新たな評価装置を用いた環境評価試験について,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2009-02-20,108,434,49-52,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290883419706880,