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中川 博雅 and 土田 義和 and 古川 友三,薄膜キャパシタにおける誘電破壊特性測定装置の試作,応用電気研究所報告,00307726,札幌 : 北海道大学応用電気研究所,1977-12,29,4,p235-245,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290883559780608,