著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
和田 真一 and 越田 圭治 and 園田 健人,ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(その4),電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2009-07-17,109,138,1-6,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290883678894336,