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井上 晋吾 and 黒木 太司,ミリ波帯におけるFR-4基板の誘電体特性の測定,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2011-12,111,351,5-8,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290883707281024,