著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
尾﨑 友厚 and 長谷川 泰則,走査透過電子顕微鏡を用いた電子線回折法による局所構造解析,研究所報告,13433555,和泉 : 大阪府立産業技術総合研究所,2016-09,,30,33-36,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290883745439104,