著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
瀬戸 大作 and 渡邊 実,MEMSダイナミック光再構成型ゲートアレイの不良耐性,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2009-09,109,201,71-76,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290883782983168,