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田中 浩治 and 雨宮 真一郎 and 岡村 均 and 嶌末 政憲,招待講演 MOSFETエージングモデルを用いた回路特性劣化SPICEシミュレーション,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2019-02-15,118,447,25-30,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290883973562752,