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杉浦 洋平 and 網谷 良介 and 多次見 大樹,GaNの表面処理による表面フェルミ準位変化の推定,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2012-11,112,327,13-15,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290884178409088,