著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
田井 健介 and 北神 正人,高信頼SSDの長寿命化とその評価法,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2009-10-20,109,238,7-12,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290884407408896,