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筒井 一生 and 角嶋 邦之 and 星井 拓也 and 中島 昭 and 西澤 伸一 and 若林 整 and 宗田 伊理也 and 佐藤 克己 and 末代 知子 and 齋藤 渉 and 更屋 拓哉 and 伊藤 一夫 and 福井 宗利 and 鈴木 慎一 and 小林 正治 and 高倉 俊彦 and 平本 俊郎 and 小椋 厚志 and 沼沢 陽一郎 and 大村 一郎 and 大橋 弘通 and 岩井 洋,三次元スケーリングによるIGBTのV[CEsat]低減の実験的検証,"電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan",,東京 : 電気学会,2017-11-21,2017,74-86,1-6,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290884959250176,