著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
富取 正彦 and 西川 治,STMによる半導体表面の観察と探針評価,応用物理,03698009,東京 : 応用物理学会,1988-12,57,12,p1907-1911,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290885225853952,