著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
森田 清三 and 菅原 康弘,特集解説 原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価と計測,"電気学会論文誌. C, 電子・情報・システム部門誌 = IEEJ transactions on electronics, information and systems",03854221,東京 : 電気学会,1999-10,119,10,1109-1112,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290885248012928,