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渡邊 隆志 and 守永 和史 and 秋山 健司,制御継電器での電気接点損傷に関する数値評価研究(その15)AgCdO12wt%電気接点対での開離責務接点の損傷と閉成責務接点の損傷との比較,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2000-02-18,99,644,13-18,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290885256039296,