著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
鈴木 功一 and 村野井 徹夫 and 竹内 学,LSIの静電破壊因子とその新計測方法,"電子情報通信学会論文誌. C-2, エレクトロニクス. 2, 電子素子・応用 = The Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers. C-2",09151907,東京 : 電子情報通信学会エレクトロニクス ソサイエティ,1997-10,80,10,335-344,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520290885276714112,