著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
中嶋 紘治 and 徳田 豊,DLTS法によるSiCショットキダイオードの電子トラップの評価,"愛知工業大学研究報告. B, 専門関係論文集",03870812,豊田 : 愛知工業大学,2005-03,,40B,19-24,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572357109756928,