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山本 剛 and 作山 誠樹 and 清水 浩三,修正コフィン・マンソン則によるSn-Ag-Cuはんだ疲労寿命の予測検討,マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集,,東京 : エレクトロニクス実装学会,2007-09,17,,203-206,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572357472542848,