著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
森田 裕宣 and 渡邊 実,差分光再構成手法に対する不良耐性,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2010-03-15,109,469,77-81,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572357532844928,