著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
T. Kishimoto and M. Takai and Y. Ohno,Suppression of charge Carrier Collection Efficiency in Diode with Retrograde Well and Epitaxial Layers for Soft-Error Immunity,大阪大学極限科学研究センター報告書 = Report Kyokugen,13442546,豊中 : 大阪大学極限科学研究センター,1998-03,,2,237-240,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572357622852352,