著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
前田 親志 and 尾関 宣仁 and 岸本 茂,カーボンナノチューブ探針を用いた半導体表面のAFM・KFM測定,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2002-01-29,101,621,1-6,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572357744108288,