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Si(110)とSi(100)表面の初期酸化過程の違い--リアルタイム光電子分光測定から

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  • Si 110 ト Si 100 ヒョウメン ノ ショキ サンカ カテイ ノ チガイ リアルタイム コウデンシ ブンコウ ソクテイ カラ

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  • CRID
    1520572357988833536
  • NII Article ID
    110004757002
  • NII Book ID
    AA1123312X
  • ISSN
    09135685
  • NDL BIB ID
    7976230
  • Text Lang
    ja
  • NDL Source Classification
    • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • Data Source
    • NDL
    • CiNii Articles

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