Si(110)とSi(100)表面の初期酸化過程の違い--リアルタイム光電子分光測定から
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- Si 110 ト Si 100 ヒョウメン ノ ショキ サンカ カテイ ノ チガイ リアルタイム コウデンシ ブンコウ ソクテイ カラ
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (108), 61-63, 2006-06
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520572357988833536
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- NII Article ID
- 110004757002
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 7976230
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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