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中村 一樹 and N. C. Paul and 武部 正英,MIS/Schottkyダイオードによる酸化、窒化、酸窒化(100)GaAs表面の電気特性評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2002-08-30,102,294,11-16,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358037544448,