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柏崎 智史 and 細川 利典 and 吉村 正義,製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2011-02-14,110,413,13-19,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358136890752,