著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
上野 憲一 and 廣瀬 哲也 and 浅井 哲也,広範囲な活性化エネルギーに適応可能なCMOS品質劣化モニタセンサLSI,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2006-08,106,206,31-36,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358162103424,