著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
喜多 浩之 and 平井 悠久,FTIR-ATRスペクトルによる4H-SiCと熱酸化膜の界面構造の解析,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2013-06-18,113,87,97-100,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358391399552,