著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
本川 善幸 and 多田 和也 and 小野田 光宣,ケルビン法により測定した導電性高分子/金属積層膜の表面電位における温度依存性,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2003-09-19,103,317,11-16,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358524124160,