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渡部 謙 and 渡辺 哲也 and 山口 俊光,点図におけるドットパターンの識別特性の評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2012-01,111,424,45-49,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520572358666828544,